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基于DBL结构的嵌入式64kb SRAM的低功耗设计

发布时间：2020-07-07

嵌入式存储器的容量及其在系统芯片中所占的面积越来越大.对其操作所带来的动态功耗成为系统芯片功耗中重要的组成部分.因此.必须寻求有效的低功耗设计技术.以降低嵌入式存储器对整个系统的影响.为了降低存储器的 ...<全部>

嵌入式开发

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DSP FPGA 实时信号处理系统

发布时间：2020-07-01

实时信号处理系统要求必须具有处理大数据量的能力,以保证系统的实时性;其次对系统的体积.功耗.稳定性等也有较严格的要求.实时信号处理算法中经常用到对图象的求和.求差运算,二维梯度运算,图象分割及区域特征提取 ...<全部>

DSP系统

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基于DSP56F826芯片的二维条码扫描器系统

发布时间：2020-06-28

系统框图系统以DSP56F826芯片为核心控制模块. 使用CMOS数字图像传感芯片.图像采集分辨率可达640×480像素.当需要进行高分辨率的图象采集时.可改用1024×1024像素的芯片(成本将随之增加).译码可靠性高.目前得 ...<全部>

DSP系统

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SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法

发布时间：2020-06-23

本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化.提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法. 1 MBIST介绍 MBIST意即存储器内建自测试(Memory Build In Self Test) ...<全部>

集成电路

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从Flash和SRAM中触发中断的过程示例(一)

发布时间：2020-06-23

使用LPC2106的Timer 1 进行的简单的中断处理.示例代码中Timer1分为FIQ和IRQ.用户可以从Flash或者SRAM中运行这些代码. 示例展示了ARM构架中中断是如何操作的.提供的代码表示了向量IRQ(中断请求)和FIQ(快速中断 ...<全部>

集成电路

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Cortex M3的SRAM单元故障软件的自检测研究

发布时间：2020-06-23

目前.对于存储单元SRAM的研究都是基于硬件电路来完成.而且这些方法都是运用在生产过程中.但是生产过程并不能完全杜绝SRAM的硬件故障.在其使用过程中.如果SRAM硬件出错.将导致程序出错而且很难被发现.因此在运 ...<全部>

集成电路

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SoC用低电压SRAM技术

发布时间：2020-06-20

东芝在[2010 Symposium on VLSITechnology"上.发布了采用09年开始量产的40nm工艺SoC的低电压SRAM技术.该技术为主要用于便携产品及消费类产品的低功耗工艺技术.通过控制晶体管阈值电压的经时变化.可抑制SRAM的最 ...<全部>

技术百科

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Keil MDK编译器下查看占用Flash和SRAM空间大小

发布时间：2020-06-19

在Keil MDK编译器编译后.信息栏都会显示编译情况.这其中就包含了FLASH跟SRAM的信息.如下图所示./*********************************************************************************************/查看FLASH跟S ...<全部>

技术百科

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解读FPGA设计的安全性

发布时间：2020-06-16

与开发成本很高的ASIC相比.FPGA可重复编程的性能正受到系统设计者的青睐.此外. FPGA的性能和功能也越来越强大.包括32位软处理器.SERDES. DSP块和高性能的接口.现在的低成本FPGA甚至可以满足大批量的应用.设 ...<全部>

技术百科

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DS1250 4096k.非易失SRAM

发布时间：2020-06-10

DS1250 4096k.非易失SRAM为4,194,304位.全静态非易失SRAM.按照8位.524,288字排列.每个完整的NV SRAM均自带锂电池及控制电路.控制电路连续监视VCC是否超出容差范围.一旦超出容差范围.锂电池便自动切换至供电 ...<全部>

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